KRTS MX80M系列金相显微镜多档分光比观察头设计全新系列观察筒，采用宽光束成像系统设计，支持26.5mm超宽视野观察，带给您全新的大视野体验。两档式正像铰链三目观察筒，保证样品的移动方向与您通过目镜观察到的方向一致，使操作更加得心应手。三档式铰链三目观察筒，在成像光线100%用于双目观察或三目摄影的基础上，增加一档20%用于双目观察，80%用于显微摄影，方便用户同时对镜下图像与视频图像进行对比观察；
偏振系统偏振系统包括起偏器和检偏器，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更清楚。检偏器分为固定式检偏器和360度旋转式检偏器。360°旋转式检偏器可在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态。可在偏振系统的基础上加载微分干涉器，建立诺曼尔斯基微分干涉衬比系统。
诺曼尔斯基微分干涉衬比系统U-DICR微分干涉组件，可以将明场观察下无法检测的细微高低差，转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕形式表现出来，如LCD导电粒子，精密磁盘表面划痕等。
中性密度滤色镜连动明暗场观察设计照明器前端的拨杆可使明暗场观察切换更加方便，并带有中性密度滤色镜（ND50）联动功能。由于暗场观察时通常需要将光源开得比明场观察更亮，此功能设计可以避免用户在由暗场切换至明场时，眼睛不会受到强光的刺激，提高使用的舒适性。
物镜转换器，多孔可选多孔物镜转换器可以对同一个标本的观测点进行连续的更加合理的低、中、高放大倍率观察。全新的物镜转换器将光轴与转动轴之间的夹角降低到15°，提高了对中精度和齐焦精度，且外观更加紧凑。
光学系统
同步设计了全套明暗场两用物镜，暗场照明亮度比传统暗场物镜提高 2 倍以上。采用全新设计的长工作距物镜、半复消色差技术，多层宽带镀膜技术，采用长寿命LED光源，配合多种高度功能化的附件，50X 物镜的有效工作距离 7.9mm，100X 物镜的有效工作距离也达到了 2.1mm，更有20X 超长工作距金相物镜，大幅拓展了 MX 机型的应用领域。，能满足各种检验需要，可用于明场、简易偏光、微分干涉观察，专为LCD行业 / TFT玻璃 / COG导电粒子压痕、粒子爆破检查。

移动平台
8英寸三层机械移动平台，低手位 X、Y 方向同轴调节 ；平台面积 525×330mm，行程210×210mm，玻璃载物台板 ；带离合器手柄，可用于全行程范围内快速移动 ；玻璃载物台板（透、反射用）。

反射照明器
单颗大功率5W白色LED照明，带斜照明机构。切换至斜照明时，可以使物体表面不同材质部分呈现立体图案，增加观察的对比度与视觉效果。

丰富的观察方式，满足您的检测需求

明场观察：远心柯拉反射照明系统，配以全新设计的无限远长工作距平场消色差金相物镜，从低倍到高倍，都能得到清晰、平坦、明亮的高画质显微图像。

暗场观察：将暗场照明拉杆拉到指定位置，即可使用暗场功能，可以观察物体表面的各种划痕、杂质点及其他细微缺陷。内置衰减片，减少明暗场切换时光线剧烈变换对眼睛的刺激。

简易偏光观察：将起偏镜及检偏镜插板插入照明器的指定位置，即可进行简易偏光观察。检偏镜可分为固定式和 360°旋转式两种。

DIC 微分干涉观察：在正交偏光的基础上 , 插入 DIC 棱镜，即可进行 DIC 微分干涉观察。使用 DIC 技术 , 可以使样品表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，提高图像的对比度。可匹配带 DIC 功能的物镜，使整个视场的干涉色一致，微分干涉效果非常出色 , 高倍物镜 DIC 效果也较好。

U-DICR 微分干涉组件，可以将明场观察下无法检测的细微高低差，转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕形式表现出来，如LCD 导电粒子，精密磁盘表面划痕等。

摄影 / 摄像附件

在三目观察筒上，可以配接摄影摄像装置，将双目观察到的图像输出至监视器或计算机，进行图像分析、处理、保存或传送。使用专用的 C 接口与中继镜，可以和数码相机联接，快速进行拍照，并获取图像。